Industria
Parole chiave e temi trattati:
Controllo di processi, predictive maintenance, carte di controllo, ottimizzazione di mappe di campionamento per il monitoraggio della produzione di semiconduttori, spatial process capability.
Persone Coinvolte:
Laura Deldossi, Silvia Facchinetti, Silvia Osmetti, Diego Zappa