Strumentazione e attrezzature disponibili presso il Dipartimento

1. Fisica delle superfici, delle interfacce e delle nanostrutture

1.1 Sistemi di microscopia con risoluzione spaziale dalla scala micrometrica alla scala nanometrica:

-Microscopio a forza atomica (AFM);
-Microscopio a scansione ad effetto tunnel a risoluzione atomica (STM);
-Microscopio elettronico accoppiato a sonda Auger per mappatura chimica delle superfici con risoluzione fino a 20 nm;
Microscopi ottici;

1.2 Sistemi di deposizione di strati sottili nanostrutturati, crescita epitassiale di interfacce ossido-ossido e ossido-semiconduttore, deposizione di strati sottili metallici e coating in generale:

-Sistema di deposizione per ablazione laser (pulsed laser deposition: PLD);
-Sistema di deposizione di nanostrutture a base di metalli e leghe metalliche tramite fasci supersonici di nanoparticelle;
-Sistema di deposizione per sputtering a radiofrequenza (RF sputtering);
-Sistemi di deposizione per bombardamento elettronico;
Trattamenti al plasma;

1.3 Spettroscopia elettronica in ultra-alto vuoto (pressione di base 2x10^-10 mbar)

-Sistemi di spettroscopia di fotoemissione indotta da raggi X (XPS) con sorgenti dotate di anodi Al/Mg (3 sorgenti) o di Al (1 sorgente ad alta risoluzione energetica);
-Sistema di fotoemissione indotta da raggi UV per mappatura delle bande elettroniche;
-Sistemi di fotoemissione da sorgenti laser impulsate per spettroscopie elettroniche non lineari e risolte in tempo;

2. Laser, fotonica e spettroscopie ultraveloci

2.1 Sistemi laser impulsati per spettroscopie ultraveloci [Coherent (2 sistemi), ASOPS, Light Conversion, KM], operanti sia in riflessione che in trasmissione su scale temporali dai 30 femtosecondi al picosecondo, con rate di ripetizione degli impulsi da 1 kHz a 80 MHz, ed emissione nello spettro di frequenze dal vicino infrarosso (800 nm) all'ultravioletto (200 nm);

2.2 Set-up per generazione e misura di impulsi THz;

2.3 Set-up per misure ottiche di proprietà termiche e acustiche di sistemi nanostrutturati

3. Spettroscopie ottiche

3.1 Spettrometro micro-Raman (con sistema di mappatura dei campioni a risoluzione micrometrica;

3.2 Spettrofotometro Perkin Elmer per misure delle proprietจค ottiche di assorbimento e, con sfera integratrice, di riflessione  (UV-IR);

3.3 Ellissometro per la caratterizzazione delle proprietจค ottiche di film sottili;

3.4 Spettrofotometri portatili in fibra;

3.5 Sistema per misure di effetto Kerr magneto-ottico di strati ultrasottili magnetici (MOKE);

3.6 Sistemi interferometrici (Michelson e Mach Zender);

4. Criogenia e misure di trasporto

4.1 Criostati per misure criogeniche fino a 10 K;

4.2 Misure di trasporto al variare della temperatura e del campo magnetico esterno fino a 1.2 Tesla;

5. Sensoristica e applicazioni fotovoltaiche

5.1 Sistemi di caratterizzazione e sviluppo di sensori nanostrutturati per misure di inquinanti  ambientali (NH₃, NO₂, benzene, H₂S, VOCs) con concentrazioni dellกฏordine del ppm;

5.2 Nasi elettronici per applicazioni biomediche e di monitoraggio ambientale e industriale;

5.3 Sistemi di misura delle curve caratteristiche di celle fotovoltaiche e della loro efficienza di conversione energetica;

6. Fisica e Scienze Ambientali

6.1 Analizzatori gassosi di ozono, BTX, polveri a basso ed alto volume, sensori meteorologici ed  agrometeorologici,  

6.2 Stazioni micrometeorologiche complete per misura di flussi di CO₂, ozono, NO_X con tecnica Eddy Covariance e Gradiente